Các đề tài NCKH (ĐĐT)

In

Đề tài nghiên cứu Khoa học cấp Sở

Cập nhật 28/08/2009 - 10:52:59 AM (GMT+7)
          Trong bối cảnh ngành công nghệ Chip ở nuớc ta đang trong giai đoạn phát triển, cùng với sự đầu tư của các Công Ty, Tập Đoàn Điện Tử ở nuớc ngoài. Yêu cầu đặt ra là, nguồn nhân lực có đũ kiến thức chuyên môn và tay nghề đáp ứng theo yêu cầu của ngành công nghệ này thi không có. Truờng Đại học Công nghê Sài Gòn đã xây dựng chuơng trình đào tạo Công nghệ Chip, nhằm đáp ứng nhu cầu nhân sự cho các công ty, tập đoàn điện tử…và khó khăn đặt ra là xây dựng phòng thí nghiệm thực hành trong khi các thiết bị máy móc chuyên dụng quá đắt tiền. Xuất phát từ nhu cầu đó nhóm nghiên cứu gồm các giảng viên của khoa Điện Điện tử đã  thực hiện đề tài “Thiết bị kiểm tra TESTCHIP và IC dùng cho đào tạo” do Ths Lê Phước Lâm làm chủ nhiệm.

           Ngày 07/07/2009 vừa qua, tại Sở Khoa học và Công nghệ Tp. Hồ Chí Minh, số 244 Điện Biên Phủ, Q3, Tp. Hồ Chí Minh, đã tổ chức hội đồng báo cáo nghiệm thu đề tài “Thiết bị kiểm tra TESTCHIP và IC dùng cho đào tạo”. Đề tài thực hiện từ tháng 3/2008 đến tháng 6/2009, tổng kinh phí được đầu tư là 350.000.000đ đề tài đã chinh phục được cả hội đồng với điểm trung bình 9/10 điểm và xếp loại xuất sắc.


           Đề tài “Thiết bị kiểm tra TESTCHIP và IC dùng cho đào tạo”, tập trung nghiên cứu và chế tạo thiết bị kiểm tra TESTCHIP và IC là một thiết bị rất quan trọng trong quá trình sản xuất Chip, ứng dụng trong công đoạn assembly và test. Thiết bị này đuợc thiết kế và thi công tại Việt Nam nên có giá thành khá thấp. 
               - Các tính năng đạt đuợc của thiết bị
     • Là một thiết bị test tự động, hoạt động duới sự điều khiển của máy tính.
     • Kiểm tra các thông số của test die trên wafer.
     • Kiểm tra các thông số kỹ thuật (DC, AC) và tính năng của một số IC thông dụng như EEPROM và các IC số họ 74LS.
     • Khã năng phát triển tính năng thiết bị trên cơ sở thiết kế thêm các mạch đặc biệt và chuơng trình test.


               - Định hướng phát triển của đề tài
      + Theo hướng dùng làm thiết bị thí nghiệm thực hành cho sinh viên:
     • Thiết kế thiết bị đa năng hơn.
     • Cải tiến chương trình để sinh viên có thể chỉ cần một vài thao tác là có thể khai báo test cho một IC mới.
     • Thêm vào các tool phân tích lỗi.
     • Thêm chức năng Curve tracer Oscilloscope.
     • Mở rộng một số card nếu có thể để sinh viên có thể thao tác thực hành ngay trên máy test dễ dàng hơn.
     • Thêm tính năng cảm biến tiếp xúc của probe card và wafer để hạn chế khả năng làm hỏng die.
      + Theo hướng cung cấp thiết bị cho các công ty nhà máy sản xuất chip:
     • Nâng cao độ chính xác
     • Tăng tần số clock hệ thống.
     • Dùng các linh kiện chính xác hơn trong PMU: điện trở chính xác, OPAMP có dòng điện ngõ vào thấp, bộ ADC/DAC nhiều bit…
     • Giảm và bù trể trong phần cứng đối với vấn đề tạo timing.
     • Bù nhiệt.
     • Thiết kế chuyên dùng cho một loại IC cần test.
     • Giảm tối thiểu thời gian test.
     • Tăng khả năng bảo vệ DUT.
     • Cải thiện khả năng tự động hóa.
              - Các hạn chế của đề tài
Do nhiều yếu tố: 
     • Thời gian và kinh phí có hạn.
     • Đề tài đầu tiên trong lĩnh vực công nghệ chip tại Việt Nam.
     • Nguồn nguyên vật liệu chuyên dùng không có tại Việt Nam.
     • Tài liệu bị hạn chế bởi tính bảo mật và bản quyền của các nhà sản xuất cũng như tiêu dùng…
     • Độ chính xác của thiết bị test chưa cao.
     • Thao tác trên probe station chưa thật dễ.
     • Thời gian test còn dài.
              - Nhận xét của Intel Product Manager
     • Thiết bị rất tốt cho việc đào tạo.
     • Ông muốn mượn thiết bị để phục vụ trong chương trình training của Ông.
     • Thiết Thiết bị có chi phí thấp. Thiết bị đang dùng trong Intel có giá trị 2 triệu USD.
     • Ông quan tâm nhiều về Functional testing và  Input Leakage Current testing.
     • Ông Ông đề nghị trang bị thêm chức năng Curve tracer và Digital osilloscope.
     • Ông mong muốn phối hợp làm một số đề án của Intel.
               - Nhận xét của Hội đồng nghiệm thu đề tài
     • Đề tài thực hiện đúng thời hạn quy định.
     • Sai số của đề tài được cho phép trong đào tạo.
     • Phần mềm chưa có cột hiển thị sai số so sánh với datasheets.
     • Cần phải phân tích chi tiết và diễn giải quá trình chuyển mạch để làm phong phú hơn đề tài.
     • Đề tài được đánh giá chuẩn xuất sắc và xứng đáng được nghiệm thu

Các Nội Dung Liên Quan


VIDEO CLIPS